电子测试

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,Eqx?]5Wm0期刊名称：电子测试

英文名称：Electronic Test中国论文网/j?L"|Vh5hy'i

主管单位：北京市科学技术研究院

Bd/qlw0主办单位：北京自动测试技术研究所中国论文网#nCf5N{I

出版周期：月刊

出版地址：北京市

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IYko]0语　　种：中文

Gibx`&w0开　　本：大16开中国论文网y1J/Z^"HNQO

M'}/C9L'J!ykr R)V0国际刊号：1000-8519

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J2yc/k)G0国内刊号：11-3927/TN

0b;T)mfN{0邮发代号：82-870中国论文网 n,DZq d(i

发行范围：国内外统一发行

/VS uk)O6O1x"a0创刊时间：1994

期刊收录：

F$k&Q,R$@} |0核心期刊：

t;K` B9[SL0期刊荣誉：

联系方式

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[0期刊简介

M6J$JL)cy,}[CHk0　　《电子测试》（月刊）创刊于1978年，由北京自动测试技术研究所主办。北京市科学技术研究院主管，国内外公开发行的科技类专业刊物。以介绍最新电子技术和测试测量技术为主，秉承一贯的专业性和权威性的办刊宗旨，坚持前瞻性、技术性和实用性的编辑方针，为测试测量及自动控制业界的工程师和技术研发人员提供了全新可靠的技术与应用和行业资讯。《电子测试》创刊于1983年，见证了中国电子测试测量业的发展历程。如何为国际和国内市场提供有竞争力的产品、掌握先进的测试测量技术一直以来深受测试测量领域工程师和研究者的关注，而为他们搭建沟通行业信息的平台，开创学术交流的广阔空间则正是《电子测试》创刊以来的核心使命。目前，众多科研院所、大专院校的科研精英和国内从事微电子行业和电子产品开发的科技人员已成为其忠实的读者群，我们的发行在严格坚持“质量大于数量”的前提下，目前已增加到四万册。